Name: Microscopio metalográfico reflectante CMM - 30
Brand: Shanghai changfang Optics Instrument co., Ltd.
Availability: InStock

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Microscopio metalográfico reflectante CMM - 30

Microscopio metalográfico reflectante CMM - 30 I. uso: los microscopios metalográficos reflectantes de la serie CMM - 30 están equipados con iluminaci

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Microscopio metalográfico reflectanteCMM-30

I. uso:
Los microscopios metalográficos reflectantes de la serie CMM - 30 están equipados con iluminación por caída, lentes de campo plano, gafas de campo grande, imágenes claras y buen contraste, junto con dispositivos de polarización, los microscopios metalográficos reflectantes son adecuados para muestras pequeñas e inconvenientes invertidas, así como para la investigación y análisis de Observación de muestras que requieren la búsqueda de objetivos en un rango específico. Por lo tanto, además de utilizarse para identificar y analizar la estructura organizativa de diversos materiales metálicos y de aleación y sustancias no metálicas, el microscopio metalográfico reflectante también se puede utilizar ampliamente en las industrias electrónica, química e instrumental para observar sustancias opacas. Como cerámicas metálicas, circuitos integrados, chips electrónicos, placas de circuito impreso, placas de cristal líquido, fibras, recubrimientos recubiertos y otros materiales no metálicos, se estudian y analizan algunas condiciones superficiales. El microscopio metalográfico reflectante también es adecuado para la observación y el análisis de los departamentos de medicina, Agricultura y silvicultura, seguridad pública, escuelas, investigación científica y otros departamentos.

II. introducción al sistema

Microscopio metalográfico reflectanteEl sistema consiste en combinar orgánicamente el Microscopio óptico tradicional con una computadora (cámara digital) a través de la conversión fotoeléctrica, que no solo puede hacer observaciones microscópicas en las gafas, sino también observar imágenes dinámicas en tiempo real en la pantalla de visualización de la computadora (cámara digital).Microscopio metalográfico reflectanteY puede editar, guardar e imprimir las imágenes necesarias.

3. parámetros técnicos:

1. gafas

tipo	Ampliación	Distancia focal (mm)	Campo de visión (mm)
Gafas de campo plano	10X	25	Φ18

2. objetivo

Tipo de lente	Ampliación	Apertura numérica	Distancia de trabajo (mm)
Lente acromática de campo plano	5X	0.12	18.3
	10X	0.25	8.9
	40 veces	0.60	3.7
	60X	0.85	0.26

Microscopio metalográfico reflectanteCMM-30E

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Microscopio metalográfico reflectanteCMM-30Z

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3. ampliación óptica: 50x 100x 400x 600x
4. ampliación de referencia del sistema: 50x - 2600x
5. iluminador de caída: Lámpara halógena de 6v / 20w, brillo ajustable de 220V (50hz)
6. Grupo de filtros de color: disco giratorio, amarillo, azul, verde, vidrio esmerilado
7. dispositivo de polarización: ampliando la placa insertable y ampliando la placa de detección incorporada en la cabeza de tres ojos
8. rango de movimiento de la Plataforma de carga: 50 mm longitudinalmente; 75 mm horizontalmente
9. sistema de enfoque: micro - Movimiento grueso concéntrico con dispositivo de límite y ajuste de elasticidad, valor de celosía de micro - Movimiento de 0002 mm
10. rango de ajuste de la distancia pupilar: 53 - 75 mm
11. protección contra el moho: sistema único de protección contra el moho

4. composición del sistema:

Microscopio metalográfico reflectante informático (cmm - 30e): 1, microscopio metalográfico 2, espejo de adaptación 3, Cámara (cc) 4, A / D (adquisición de imágenes) 5, computadora
Microscopio metalográfico reflectante de tipo cámara digital (cmm - 30z): 1, microscopio metalográfico 2, espejo adaptativo 3, cámara digital

Sistema de imágenes microscópicas digitales

Sistema informático de imágenes microscópicas

5. compras de instrumentos:

1. ocular: 5X 10x (división) 12.5x 20x 2. objetivo: 20x 50x 80x 100x
3. sistema de imágenes de píxeles altos 4. software de medición de imágenes metalográficas CF - 2000c
5. software de análisis de mapas de estructura metalográfica (cuantitativo) CF - 2000jx

Análisis y selección de campo

Selección de fábricas y laboratorios

Selección de laboratorios universitarios

Leyenda de aplicación típica

Descripción gráfica del instrumento


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